本文標(biāo)題："帶有質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析-電子衍射原理"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2014-9-4 17:15:2
帶有質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析-電子衍射原理
在所有這些晶間沉淀脆性的事例中，還必須估計(jì)到沉淀處理過(guò)程中還會(huì)
出現(xiàn)雜質(zhì)偏析的可能性。它們的不利影響將在以后討論，而這會(huì)加劇沉淀相
引起的脆性。
我們指出從沉淀相影響沿晶斷裂機(jī)制這一現(xiàn)象引伸出來(lái)的幾個(gè)有
趣的問(wèn)題。可在斷口上看到處于原先位置的質(zhì)點(diǎn)，并可用帶x射線潛儀的掃
描電子顯微鏡對(duì)
它們進(jìn)行觀察和分析。如果質(zhì)點(diǎn)太小，還可用經(jīng)典的電子顯微鏡復(fù)型技術(shù)把
它萃取下來(lái)，再通過(guò)電子衍射來(lái)鑒定、或通過(guò)電子探針或直接用帶有x射線
質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析。
這樣一來(lái)，解決問(wèn)題的可能性就增加了。這也體現(xiàn)了顯微斯口學(xué)的長(zhǎng)處:它
不僅可用來(lái)研究一般的沉淀現(xiàn)象，也是一種解決冶金學(xué)問(wèn)題的研究方法，因
為把造成某種類型脆性的元素確認(rèn)出米，就是為消除這種缺陷邁出了重要的
一步。
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