本文標題："煅燒溫度金相顯微鏡測量所獲得的微晶顆粒直徑"
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煅燒溫度金相顯微鏡測量所獲得的微晶顆粒直徑，
隨著煅燒溫度升高或煅燒時間延長，微晶粒逐步校正、長大、比
表迅速下降，在1050℃之下煅燒后同，粒度與比表面的關(guān)系，橫
座標表面由X射線形貌測量所獲得的微晶顆粒直徑，縱座標表示
相應粉粒所測得的比表面值，圖中直線為按球形或立方粉粒計算
出來的，粒徑與比表面的理論關(guān)系，可見當粒度實測比表面與理
論計算值極為接近，可以認為這時微晶粒的分散度極高，微晶粒
之間甚少接觸，存在大量的“自由”表面，當微晶的顆粒度逐漸
加大時，比表面積下降得很快，與理論值的偏離也加大了，故可
以認為，這時不僅微晶粒相互兼拼而長大，晶粒與晶粒之間的相
互連接也增加了，故其有效外表面便小于理論值，上面講的這些
都是微晶粒內(nèi)部及微晶粒之間的變化，在這整個過程中，假晶結(jié)
構(gòu)以及粉粒外形，卻伯是基本沒有改變的。
根據(jù)上面的敘述，在燃料煅燒過中，微晶的長大與比表面的喪失
，其質(zhì)點的轉(zhuǎn)移傳遞過程，可能是以表面擴散或蒸發(fā)-凝結(jié)為主
，因為在微晶粒的情況下，表面能量是特別高的，當煅燒溫度不
太高時，它特別有利于表面擴散和蒸發(fā)-凝結(jié)過程的進行，此外
，整個假晶構(gòu)架沒有明顯的收縮，也是表面擴散和蒸發(fā)-凝結(jié)傳
質(zhì)的例證，這時，對于體擴散傳質(zhì)說來，煅燒溫度仍嫌過低，關(guān)
于燒結(jié)過程中的各種傳質(zhì)機構(gòu)。
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