本文標(biāo)題："待測(cè)物體的表面明暗程度會(huì)影響到量測(cè)精度"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2013-2-4 0:35:39
待測(cè)物體的表面明暗程度會(huì)影響到量測(cè)精度
缺點(diǎn)：
(1).須作測(cè)頭半徑補(bǔ)正，方能得到工件表面之點(diǎn)資料。
(2).手動(dòng)量測(cè)時(shí)，可量測(cè)任意位置，但量測(cè)速度慢，自動(dòng)量測(cè)時(shí)，只能量測(cè)單一方向點(diǎn)位置且耗時(shí)。
(3).量測(cè)軟件（如：塑膠或軟質(zhì)…材料），會(huì)因接觸力造成物體表面發(fā)生變形，而得到錯(cuò)誤的點(diǎn)資料。
(4).對(duì)于有特殊幾何形狀工件的量測(cè)，必須作量測(cè)規(guī)劃。
(5).測(cè)頭具有固定的直徑大小，所以曲面接合處若沒(méi)有圓角處理，則在交接的尖角處，將無(wú)法量得點(diǎn)資料造成量測(cè)死角。
后一篇文章：接觸式與非接觸式量測(cè)影像測(cè)量?jī)x器有什么不同 »
前一篇文章：« 材料高倍數(shù)放大觀察金相顯微鏡制造廠家
tags:金相分析,金相顯微鏡,上海精密儀器,
待測(cè)物體的表面明暗程度會(huì)影響到量測(cè)精度,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/508.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/