本文標(biāo)題："晶體結(jié)構(gòu)光學(xué)的測定裂紋顆粒界面"
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晶體結(jié)構(gòu)光學(xué)的測定裂紋顆粒界面
光學(xué)性質(zhì)的測定
在聚斂偏光下研究干涉圖可以確定非均質(zhì)晶體的軸性、切片方位
、測定光性符號、二軸晶光軸角和光率體色散等。
1．晶體的軸性和切片方位的確定
根據(jù)干涉圖的形象特征及變化規(guī)律即可確定晶體的軸性和切片方
位。在聚斂偏光下沒有干涉圖的都是均質(zhì)晶體，有干涉圖的為非均質(zhì)
晶體。垂直或接近垂直光軸的干涉圖可以確定非均質(zhì)晶體的軸性，這
類切片在正交偏光下全消光或僅有較低的干涉色，凡轉(zhuǎn)動物臺干涉圖
的形態(tài)不變，或有一黑帶平行目鏡十字絲掃過視域者均為一軸晶；
許多光學(xué)性質(zhì)及常數(shù)的測定，必須在定向切片上才能測到。一軸
晶常用的是垂直光軸和平行光軸兩種切片，二軸晶常用的有垂直光軸
和平行光軸面的兩種切片。
凡是正交偏光下全消光，
從材料本身?xiàng)l件來說，具有一定鍵角的共價(jià)鍵、強(qiáng)鍵、復(fù)雜的晶
格構(gòu)造和晶體結(jié)構(gòu)是脆性的基礎(chǔ)。與此相反，在金屬中金屬鍵和緊密
球形堆積一般導(dǎo)致塑性變形。
有些無機(jī)非金屬材料在一定的條件下顯示出非脆性或部分脆性行
為。在一定的組成和晶體結(jié)構(gòu)的條件下，有時(shí)會觀察到延展性的跡象
或具有完全延展性。表6-6列出了脆性、“半脆性”和延展性無機(jī)非金
屬物質(zhì)的力學(xué)性能。
部分脆性位錯運(yùn)動橫向滑移困難滑移面有限(H80)塑性屈服階段長部
分延展性好
彈性直至
斷裂表面裂紋顆粒界面上滑移帶碰撞導(dǎo)致劈裂位錯運(yùn)動橫向滑移
很少滑移面有I~acl)塑性屈服階段短延展性好在斷裂前部分塑性表面
裂紋
延展性!位錯運(yùn)動橫向滑移很少滑移面無限(A2C1)塑性屆服階段短韌
性斷裂塑性流動直至韌性斷裂韌性斷裂
材料的脆性變形要求出現(xiàn)裂紋(楔口)并發(fā)生擴(kuò)展，這是一個主要
前提。楔口和裂紋的存在是無機(jī)非金屬材料的典型特征。楔口和裂紋
往往在生產(chǎn)過程中出現(xiàn)，首先是受熱工過程中冷凝和微應(yīng)力的作用。
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