本文標(biāo)題："顯微衍射技術(shù)電子圖象-晶粒尺寸小于15-20μm"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過-----時(shí)間：2014-10-7 17:24:56
顯微衍射技術(shù)電子圖象-晶粒尺寸小于15-20μm
在多晶體中，各個(gè)晶粒的取向是通過蝕坑，或由顯微
衍射技術(shù)得到的電子圖象確定。立方對(duì)稱的主要平面
中蝕坑的典型形狀。但如果晶粒尺寸小于15-20μm，
則很難得到清晰的蝕坑.為此目的而使用電子顯微鏡是很費(fèi)力的。
對(duì)很大晶粒(超過0. 5mm)的取向可在勞埃照片或從單個(gè)大
晶粒上獲得的反射線勞埃照片上測(cè)定。所確定的取向在相應(yīng)
的極圖上用圓點(diǎn)來標(biāo)注。在極圖上，這些圓點(diǎn)分布的花樣表征織構(gòu).
從不同晶粒中取得的大量勞埃照片使極圖更可靠的表征織構(gòu)類型。
然而這個(gè)方法相當(dāng)費(fèi)力。
在這方面，建立在測(cè)量單個(gè)晶粒的反射強(qiáng)度基礎(chǔ)上的X射線
方法在再結(jié)晶分析中獲得更廣泛的應(yīng)用.
后一篇文章：晶粒粗化并把這種組織叫做粗晶粒-金屬分析顯微鏡 »
前一篇文章：« 合金晶粒之間具有液相中間夾層截面分析顯微鏡
tags:技術(shù),材料學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
顯微衍射技術(shù)電子圖象-晶粒尺寸小于15-20μm,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/1910.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/